1模型剖析由于真空斷路器每極結構有軸對稱(chēng)的特色，因而通常只需對12的場(chǎng)域進(jìn)行剖析。作為個(gè)特例，為簡(jiǎn)化有限元剖析的模型，并假設滅弧室主屏蔽罩占高壓側電位的5，這兒只對包括瓷套在內的滅弧室內外的14場(chǎng)域進(jìn)行剖析核算。雖然如此，但根據本文得出的定論依然具有定的適應性。1中，代真空滅弧室外的瓷套所在的區域3代滅弧室與瓷套之間的空間，實(shí)踐的斷路器規劃中會(huì )在這兒填充絕緣介質(zhì)，如空氣56氣體液態(tài)絕緣脂絕緣油等，代滅弧室外壁所在的區域，這兒由玻璃或陶瓷組成山代真空外結構意滅弧室內的真空區。其他，中涂黑部分是滅弧室內高電位側電極主屏蔽罩和輔佐屏蔽罩，相連在起的部分是等電位的。
實(shí)踐剖析過(guò)程頂用2的實(shí)體模型。剖析過(guò)程中求出電場(chǎng)在4個(gè)區域的散布情況及指定節點(diǎn)處的值，其間區域5與1交口的絕緣水平仍可達開(kāi)斷前的48 8，工頻沖擊水平，滿(mǎn)意相關(guān)規范要求。而數次開(kāi)斷后的情況較之出廠(chǎng)時(shí)的冷焊應該更為嚴格。
比照可知真空滅弧室可接受因合閘而產(chǎn)生的融焊引起的毛刺對絕緣的影響，融焊產(chǎn)生毛刺的處理辦法有對開(kāi)箱后的真空斷路器采取空載操作定次數。
有人憂(yōu)慮真空開(kāi)關(guān)在空載操作時(shí)觸頭間又要發(fā)生冷焊，從頭產(chǎn)生毛刺而影響絕緣，這種憂(yōu)慮是不必要的。由于空載操刁難真空觸頭間隙的耐壓強度的影響有2方面1合閘時(shí)觸頭間發(fā)生冷焊。
分閘時(shí)又將這些焊點(diǎn)拉裂，在觸頭面生毛刺；2機械壓接可使某些原來(lái)很尖利的毛刺變鈍。
前者使觸頭間隙的耐壓水平下降，后者使之升高進(jìn)行型式試驗數數百次后，絕緣水平可滿(mǎn)意規范要求4885，工頻沖擊；開(kāi)斷后的真空斷路器在拍打定次數后，其絕緣水平般都會(huì )有定程度的進(jìn)步。
其他，真空斷路器出廠(chǎng)時(shí)，真空滅弧室的情況為空載操作后的情況，其絕緣斷口工頻耐壓48kVlmin無(wú)問(wèn)。且有的真空滅弧室生產(chǎn)廠(chǎng)的產(chǎn)品在出廠(chǎng)時(shí)就預留有定量的機械性縮短及觸頭調整量，以便整機廠(chǎng)在裝調過(guò)程中，經(jīng)過(guò)空載操作，使動(dòng)靜觸頭接觸更好。
3定論綜上所述，筆者以為斷路器在出廠(chǎng)時(shí)應為合閘情況，進(jìn)廠(chǎng)驗收時(shí)將其分閘，并保持分閘情況存放，以縮短其受影響時(shí)間；在運行前，對斷路器進(jìn)行定次數的空載操作，同時(shí)在產(chǎn)品技術(shù)條件和闡明書(shū)中注明。
經(jīng)過(guò)實(shí)踐，在乙，210產(chǎn)品出廠(chǎng)時(shí)，用合閘情況，無(wú)絕緣等問(wèn)。
強度的改變率不是很大，只在挨近滅弧室高電位端蓋時(shí)，電場(chǎng)強度出現急劇添加現象，這是由于電場(chǎng)強度散布過(guò)于會(huì )集引起的。
電場(chǎng)強度的急劇添加對絕緣晦氣，處理此問(wèn)的辦法是改變滅弧室端蓋與外銜接部位的幾許形狀，主要是導電部分的幾許形狀，從而改善這兒的電場(chǎng)散布情況。由于分界面處電場(chǎng)強度的法向重量作用在相對介電常數較大的玻璃上，因而不易引起絕緣介質(zhì)的擊穿；而切向重量則徹底作用在2種絕緣介質(zhì)的分界面上，反而易引起沿面的閃絡(luò )。
在滅弧室與外瓷套間填充相對介電常數較大的介質(zhì)，會(huì )加速滅弧室外面電場(chǎng)強度的改變。
間填充不同絕緣介質(zhì)時(shí)電場(chǎng)強度部分值的比較。
欠坐標如01空氣夂闡明1中的數據是外加沖擊電壓350時(shí)所核算的值。2中的尤坐標該點(diǎn)與2模型左邊際處的間隔。
電場(chǎng)強度切向重量的值在填充不同絕緣介質(zhì)時(shí)的比較，是在外加尤坐標mm強度切向分置的比較72.5，電壓時(shí)的情況。填充空氣時(shí)合，電場(chǎng)數值差異相對較小。填充絕緣脂時(shí)的電場(chǎng)數值比另2種情況下的改變大，由于絕緣脂的相對介電常數明顯增大。其他種情況的電場(chǎng)強度切向重量不總大于或小于其他情況，因而絕緣介質(zhì)的相對介電常數影響滅弧室外率。
在滅弧室與瓷套間填充相對介電常數較大的絕緣介質(zhì)，將改變滅弧室外面電場(chǎng)強度切向重量的改變率，使電場(chǎng)強度的大值更大，小值更小。電場(chǎng)強度數值的增大關(guān)于真空斷路器滅弧室外面的絕緣規劃晦氣，但相對介電常數較大的絕緣介質(zhì)通常有更高的沿面閃絡(luò )電壓，相比之下，電場(chǎng)增強的程度遠小于閃絡(luò )電壓增大的程度，因而，選用相對介電常數較大的絕緣介質(zhì)對進(jìn)步滅弧室外面的絕緣特性是有利的。
歸納2方面因素，在真空斷路器規劃頂用絕緣脂可有用處理滅弧室外的絕緣問(wèn)。
3定論用介電常數較大的絕緣介質(zhì)會(huì )導致電場(chǎng)強度某些區域添加，其他些區域減小，但其數值的改變不大。
當在空氣中不能滿(mǎn)意真空滅弧室外面絕緣要求時(shí)，用定的絕緣介質(zhì)可有用進(jìn)步滅弧室外面的絕緣強度。
限于絕緣油易燃特性和56對環(huán)境形成的污染，在滿(mǎn)意真空滅弧室外面絕緣要求的情況下，具有較好絕緣特性的絕緣脂成為規劃高壓真空斷路器的理想挑選。
究及其界面處的電場(chǎng)強度又是關(guān)懷的焦點(diǎn)。經(jīng)過(guò)改變區域5的相對介電常數，以反應在滅弧室與瓷套間填充不同絕緣介質(zhì)的情況，進(jìn)而求出每種情況下15分界面處2電場(chǎng)核算及結果剖析用有限元法對2剖析求解可得電位散布情況3.3是在滅弧室與瓷套間填充相對介電常數為2.8的絕緣脂時(shí)的等位線(xiàn)。
填充空氣與36時(shí)的等位線(xiàn)散布曲線(xiàn)與此相似。
由3可求出相應各點(diǎn)的電場(chǎng)強度值，散布情況
滅弧室外電場(chǎng)強度散布，沿其外面切向的重量是決定滅弧室外面閃絡(luò )的主要因素，也是滅弧室外面絕緣的單薄之處。
填充不同的絕緣介質(zhì)對電場(chǎng)強度在滅弧室外面上的散布規律影響不大，不管切向重量仍是法向重量，在每種情況下的曲線(xiàn)形狀大體相同，僅僅數值上的差異。